測鍍層X熒光光譜儀可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
一、性能特點：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
二、應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
三、技術指標：
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
一次可同時分析較多24個元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，較薄可測試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9%。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
以上就是測鍍層X熒光光譜儀的性能特點及應用領域，希望能幫助大家更好地了解測鍍層X熒光光譜儀。
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