測鍍層X熒光光譜儀EDX8600HX熒光光譜儀 規格：
1.元素分析范圍:鈉-鈾（NA-鈾）抽真空
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.能量分辨率129±5ev
5.樣品腔尺寸：520*310*120（MM)
6多次量測重復性（以標準樣品為準）：±0.05%（高含量）
±0.002%（微量）
長期工作穩定性（以標準樣品為準）：±0.05%（高含量）
±0.0025%（微量）
EDX8600HX熒光光譜儀應用領域：
1.ROHS
CD ＜100 PB＜1000
HG ＜1000 Cr6 ＜1000
PBBS ＜1000
PBDEs ＜1000
2.無鹵檢測指令
BR ＜900
CL ＜900
BR CL ＜1500
3.合金分析領域
銅合金 不銹鋼 AL 鍍層
4.包裝指令檢測標準（94/62/EC)
CD PB Hg Cr6 ＜100
5.玩具指令檢測標準
EN71-3
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